高低溫試驗(yàn)箱在電子元器件中的技術(shù)應(yīng)用

1. 溫度范圍：通常涵蓋從極低溫度（如-70℃或更低）到溫度（如+150℃或更高），以滿足各種電子元器件的測試需求。

2. 溫度波動度：表示箱內(nèi)溫度的穩(wěn)定程度，一般要求波動度較小，以保證測試的準(zhǔn)確性。

3. 溫度均勻度：確保箱內(nèi)不同位置的溫度差異在合理范圍內(nèi)，避免局部溫度過高或過低對測試結(jié)果造成影響。

4. 升溫速率和降溫速率：不同的電子元器件可能對升溫