高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快

簡要描述：高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快
用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、航天等制品檢測質(zhì)量

產(chǎn)品型號： SME-100PF

所屬分類：高低溫交變濕熱試驗箱

更新時間：2025-05-17

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

??高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快

是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫、低溫溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

1）溫濕度控制儀表采用“韓國原裝TEMI990"大屏幕-液晶顯示-可編程微電腦PID控制SSR輸出運行

2）具有PID自整定功能、模糊控制功能、多點報警功能、參數(shù)屏蔽功能、用戶調(diào)整功能、斜坡/保溫功能　　
3）傳感器為*Pt100鉑電阻傳感器，精度高，準確　　

高溫低溫試驗導(dǎo)則設(shè)備結(jié)構(gòu)該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快

試樣限制
	本試驗設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存生物試樣的試驗或儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存
3.容積、尺寸和重量
3.1.標稱內(nèi)容積 3.2.內(nèi)箱尺寸 3.3.外型尺寸 3.4.重量	80L W 400×H 500×D 400mm W 700×H 1640×D 1150mm
4.性能
4.1.測試環(huán)境條件 4.2.測試方法	環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下 GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品溫度試驗設(shè)備檢驗
4.3.溫度范圍	-40℃→+150℃
4.4.溫度波動度	±0.5℃
4.5.溫度偏差	±2.0℃
4.6.濕度范圍	20%～98%R.H
4.7.濕度波動度	±2.5%R.H.
4.8.濕度均勻度	±3.0%RH（濕度＞ 75%RH） ±5.0%RH（濕度 ≤75%RH）
4.9.升溫時間	-40℃→+150℃ 65min
4.10.降溫時間	+20℃→-40℃ 60min
4.11.負載情況	空載
4.12.溫濕度控制范圍圖
4.13.滿足試驗標準	GB/T 2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法 GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GJB 150.3-1986 高溫試驗 GJB 150.4-1986 低溫試驗 IEC68-2-1 試驗A：寒冷 IEC68-2-2 試驗B：干熱